FEI Quattro сканирующий микроскоп
- In situ исследование материалов в их естественном состоянии: уникальный FEG-SEM с высоким разрешением с режимом естественной среды (ESEM) .Минимизируйте время подготовки образца: низкий вакуум и режим ESEM позволяют получать изображения без зарядки с непроводящих и/или гидратированных образцов
- Получайте всю информацию из любых образцов, используя одновременное отображение в SE и BSE во всех режимах работы
- Анализ при температурах от -165 ° С до 1400 ° С с помощью крио, Пельтье и нагревательного столика для образцов
- Отличные аналитические возможности с камерой, которая позволяет устанавливать до трех детекторов EDS (два из них разведены на 180 °), WDS и копланарной EDS / EBSD
- Анализ непроводящих образцов: точные EDS и EBSD адаптированные под низкий вакуум, создаваемый с помощью сквозной откачки через линзу Quattro
- Удобный и точный эвентцентрический столик с диапазоном наклонов в 105 ° для наблюдения образца с любых точек
- Простое в использовании, интуитивно понятное программное обеспечение с руководством пользователя и функцией отмены
- Новые инновационные решения: выдвижной детектор катодолюминесценции RGB (CL), нагревательный стол для высокого вакуума 1100 ° C и AutoScript на основе Python (API)
FEI Quattro сканирующий микроскоп
Сканирующий микроскоп FEI Quattro представляет продукцию производства "Thermo Fisher Scientific". Установка является стационарным оборудованием и подлежит применению в лабораторных условиях. Применяется для научно-исследовательских работ в академических и промышленных лабораториях, не требует особого уровня подготовки операторов.
Микроскоп предназначен для различных сфер применения. Микроскоп полезен для анализа и ведения технологических процессов в металлургии, для контроля сварных швов, сверхпроводящих изделий и полезных ископаемых. В общем случае применим в геологии, биологии и в медицине. Вакуумные режимы позволяют не подготавливать образцы перед анализом и проводить исследования без дополнительных временных затрат. Высокое разрешение до 8 нм обеспечивается тетродной электронной пушкой с катодом из вольфрама и позволяет получать контрастные изображения благодаря детекторам с высокой чувствительностью.
Управление микроскопом реализовано при помощи интегрированного контроллера и ПЭВМ с применением специального программного обеспечения. Программное обеспечение обладает закрытым доступом для защиты от несанкционированных действий со стороны пользователя во избежание нарушений метрологических характеристик.
- FEI Quattro сканирующий микроскоп
- Онлайн-руководство пользователя
- Руководство по эксплуатации
- Программное обеспечение для дистанционного управления
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Тип микроскопа |
Сканирующий |
|
Область применения |
Материаловедение, Науки о живом, Образование. Междисциплинарные научные центры |
|
Направление деятельности |
2D-анализ, Биология, Междисциплинарный мультимодальный и мультимасшабный анализ |
|
Объекты интереса |
11 нм – 100 нм |
|
Характеристики электронной пушки |
|
|
Тип катода |
Автоэмиссионный катод типа Шоттки |
|
Максимальное разрешение, нм |
1 |
|
Диапазон ускоряющего напряжения, В |
200–30 000 |
|
Минимальная энергия приземления электронов, эВ |
20 |
|
Максимальный ток зонда, нА |
200 |
