QUANTAX EDS система анализа для электронных микроскопов

Адаптирована под все типы и марки электронных микроскопов
Широкая линейка SDD-детекторов XFlash площадью 10, 30, 60 и 100 мм²
Специальные модели SDD-детектора: XFlash 6T для просвечивающих микроскопов и плоский детектор XFlash 5060F, размещающийся непосредственно под электронным пучком
Самая высокая на рынке скорость счета SDD-детектора: входная — более 1 500 000 имп/с, выходная — более 600 000 имп/с для быстрого и точного элементного анализа
Лучшее энергетическое разрешение — 121 эВ на линии Mn Kα при скорости счета 100 000 имп/с
Наименьшее расстояние образец — детектор для большего телесного угла благодаря технологии Slim-line
Компактная и легкая конструкция SDD-детектора (масса менее 3,75 кг) снижает нагрузку на колонну микроскопа
Высокоточное позиционирование SDD-детектора с регулируемым наклоном внутри камеры микроскопа благодаря полностью моторизованному приводу
Возможность проводить расчет содержаний с помощью комбинации эталонного и безэталонного способа анализа

Cвяжитесь с нами:

QUANTAX EDS система анализа для электронных микроскопов

Системы рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS представляет продукцию производства немецкой фирмы "Bruker Optik GmbH". Установка является стационарным устройством и подлежит применению в лабораторных условиях.
Применяется для решения научно-исследовательских задач, измеряет массовую долю химических элементов в монолитных изделиях и порошкоподобных материалах. Основная особенность – модульная система компоновки, которая позволяет подобрать различную модификацию под заданные разные задачи в любой области применения. Простой в эксплуатации и не требует дополнительных знаний для последующей работы.

Система рентгеновского энергодисперсионного микроанализа Quantax EDS
Руководство по эксплуатации, включающее Руководство пользователя программного обеспечения, на русском языке и в подлиннике
Методика поверки

QUANTAX EDS система анализа для электронных микроскопов купить по лучшей цене! 8 (499) 495-46-92 Москва, 8 (846) 300-42-90 Самара. Доставка по РФ! Микроскопы: большой выбор оборудования. Гарантия качественной продукции от проверенных поставщиков!

Наименование характеристики	Значение характеристики
Спектральное разрешение линии К Мп (5,9 кэВ), эВ	от 121 до 145 (зависит от площади кристалла детектора)
Максимальная скорость счета, имп/с	600 000
Предел допускаемого относительного СКО выходного сигнала, %	0,5
Диапазон измерений массовой доли элементов, %	от 0,1 до 100,0
Предел допускаемого СКО случайной составляющей относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений: - от 0,1 до 1,5 % включ. - св. 1,5 до 10,0 % включ. - св. 10,0 до 20,0 % включ. - св. 20,0 до 100,0 % включ.	10 5.0 2.0 1,0
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений массовой доли элементов1), %, в поддиапазоне измерений: - от 0,1 до 1,5 % включ. - св. 1,5 до 10,0 % включ. - св.10,0 до 20,0 % включ. - св. 20,0 до 100,0 % включ.	±35 ±30 ±10 ±5,0
Активная площадь детектора, мм2	от 10 до 100 (10, 30, 60, 100)
Средний срок службы, лет, не менее	10
Параметры электрического питания: - напряжение сетевого питания, В - частота питающей сети, Гц	110/240±10 % 60/50±1
Габаритные размеры, мм, не более: - детектора без учета длины «пальца» (длинахширинахвысота) - блока обработки сигнала (длинахширинахвысота) - типичная длина «пальца» детектора (зависит от электронного микроскопа, на который устанавливается система)	160х90х124 495x270x165 250/330/400