QUANTAX MICRO-XRF система анализа для электронных микроскопов

Сочетание микрофокусной рентгеновской трубки с поликапиллярной рентгеновской оптикой и системой регистрации рентгенофлуоресцентного спектра QUANTAX EDS позволяет создать на базе сканирующего электронного микроскопа полноценный микрорентгенофлуоресцентный спектрометр
Чувствительность микрорентгенофлуоресцентного метода в сравнении с электронным источником возбуждения в 20–50 раз лучше в области средних и тяжелых химических элементов с пределом обнаружения до 10 ppm
Программа ESPRIT позволяет провести вычисление концентраций, полученных с помощью электронного микроскопа и QUANTAX Micro-XRF, в одном интерфейсе для уточнения окончательного результата

Cвяжитесь с нами:

QUANTAX MICRO-XRF система анализа для электронных микроскопов

Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX MICRO-XRF представляет продукцию производства немецкой фирмы "Bruker Optik GmbH". Устройство является аналитическим инструментом и подлежит применению в лабораторных условиях.
Применяется для решения научно-исследовательских задач, позволяет измерять массовую долю химических элементов в монолитных изделиях и порошкоподобных материалах. Основная особенность – модульная система компоновки, которая позволяет подобрать различную модификацию под заданные разные задачи в любой области применения. Простой в эксплуатации и не требует дополнительных знаний для последующей работы.

Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX MICRO-XRF
Руководство по эксплуатации, включающее Руководство пользователя программного обеспечения, на русском языке и в подлиннике

QUANTAX MICRO-XRF система анализа для электронных микроскопов купить по лучшей цене! 8 (499) 495-46-92 Москва, 8 (846) 300-42-90 Самара. Доставка по РФ! Микроскопы: большой выбор оборудования. Гарантия качественной продукции от проверенных поставщиков!

Наименование характеристики	Значение характеристики
Типы образцов	Твердые вещества, частицы
Дополнительное обеспечение	Не требуется отдельный ПК
Функции управления прибором	Полный контроль параметров трубки и фильтров
Диапазон спектрального анализа	Идентификация пиков рентгеновского излучения, коррекция артефактов и фона, расчет площади пика, автономная количественная оценка, комбинированная количественная оценка рентгеновского излучения и ЭЦП, анализ слоев
Анализ данных	Гиперспектральная база данных
Представление результатов	Результаты количественной оценки, статистическая оценка, распределение элементов (линейное сканирование, отображение)