QUANTAX WDS система анализа для электронных микроскопов
- Современная волнодисперсионная оптическая система с автоматической настройкой и юстировкой
- Конструкция по принципу «параллельного пучка» с коллимирующей оптикой скользящего падения, позволяющая получить наилучшее энергетическое разрешение в длинноволновой области энергий
- Энергетическое разрешение 4,6 эВ на линии Si Kα, что примерно на порядок лучше в сравнении с EDS-системой
- Диапазон измеряемых спектрометром энергий — от 100 эВ до 3600 эВ
- Выбор из 6 кристаллов-анализаторов для оптимального решения задачи: многослойные 200 Å (Be, B), 80 Å (C, N), 60 Å (400 — 950 эВ), 30 Å (500 — 2000 эВ), TAP (500 эВ — Si Kα) и PET (Si Kα — 3600 эВ)
- Измерение в каждой точке на образце и расчет содержаний возможны с помощью и EDS-, и WDS-метода в одном окне программы ESPRIT
QUANTAX WDS система анализа для электронных микроскопов
Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX WDS представляет продукцию производства немецкой фирмы "Bruker Optik GmbH". Устройство является аналитическим инструментом и подлежит применению в лабораторных условиях.
Применяется для решения научно-исследовательских задач, позволяет измерять массовую долю химических элементов в монолитных изделиях и порошкоподобных материалах. Основная особенность – модульная система компоновки, которая позволяет подобрать различную модификацию под заданные разные задачи в любой области применения. Простой в эксплуатации и не требует дополнительных знаний для последующей работы.
- Система анализа для электронных микроскопов QUANTAX WDS
- Руководство по эксплуатации, включающее Руководство пользователя программного обеспечения, на русском языке и в подлиннике
|
Наименование характеристики |
Значение характеристики |
|
Диапазон энергий |
от 100 eV до 3,600 eV |
|
6 дифракционных кристаллов |
200 Å, 80 Å, 60 Å, 30 Å (многослойные), TAP и PET |
|
Тип пучка |
WD спектрометр с параллельным пучком с коллиматорной оптикой скользящего падения |
|
Совместимость |
Полная совместимость с EDS и другими аналитическими методами, производимыми Bruker для SEM
|
|
Разрешение |
4.6 eV на Si Kα |
|
Дополнительные функции |
Встроенная система управления подачей газа |
