УД4-94-ОКО-01 дефектоскоп ультразвуковой многоканальный

Универсальный многоканальный ультразвуковой дефектоскоп УД40940 ОКО001

предназначен для контроля продукции на наличие дефектов типа нарушения сплошности и однородности материалов готовых изделий, полу-фабрикатов и сварных (паяных) соединений, обнаружения дефектов, распознавания их форм или ориентаций, измерения глубин (координат) залегания или условных размеров дефектов. Дефектоскоп может применяться для контроля качества продукции при ее изготовлении и эксплуатации в различных отраслях промышленности, в том числе в составе механизированных и автоматизированных комплексов неразрушающего контроля

СУД4-94-ОКО-01 разработан для ручных и автоматизированных исследований: поиск дефектов типа нарушения цельности и однородности профиля: поиск дефектов, определение их конфигурации и местонахождения, замеры координат точек нахождения дефектов, замера величины брака, сбора данных и сохранения результатов исследований для дальнейшей обработки, анализа и хранения.

Универсальный многоканальный ультразвуковой дефектоскоп УД4 94 ОКО 01 адаптирован и полностью соответствует требованиям норма тивной документации действующей в различных производственных секторах, таких как:

• атомная энергетика,

• металопроизводство,

• трубная промышленность,

• железнодорожный транспорт и т.д

Преимущества дефектоскопа

высокая производительность, за счет многоканальности дефектоскопа;

• возможность внедрения дефектоскопа при проведении механизированного и автоматизированного контроля; • исключение влияния субъективного фактора (при условии использования его в составе механизированной системы контроля);

• простота в работе благодаря интуитивному интерфейсу;

• дефектоскоп обеспечивает распознавание форм и ориентации дефектов, измерение глубин (координат) залегания и условных размеров дефектов;

• документирование всех результатов контроля и расширенные возможности анализа данных;

• универсальность применения и возможность формирования любой конфигурации многоканальной системы НК на базе дефектоскопа;